Field Emission Scanning Electron Microscope 4 (EDS) / 열전계주사전자현미경4 (FE-SEM 4)
도입년도
2011
모델명
JSM-7600F
취득금액
제조국가 / 제조사
일본 / JEOL
SPEC / 규격 / 용도
- EI resolution : 1.5 nm (1 kV) in GB mode, 1.0 nm (15 kV)
- Magnification 25 to 1,000,000x
- Accelerating voltage 0.1 to 30 kV
- EDS 장착
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JSM-7600F
/ Analysis of phase, chemical elements, crystal structure at small region for materials needing the high resolution 고해상도를 요구하는 재료의 상관찰, 화학조성분석, 결정구조분석
