장비찾기 및 예약현황
Focused Ion Beam 3 / 집속이온빔장치(FIB 3)
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- 도입년도
- 2018
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- 모델명
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NX2000
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- 취득금액
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- 제조국가 / 제조사
- Japan / HITACHI
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- SPEC / 규격 / 용도
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https://skb.skku.edu/ccrf/room/equipment/micro_equip_FIB3.do
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- 운영기관
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공동기기원
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- 설치장소
- [81B104]집속이온빔(FIB)
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- 담당자
- 권미리내
(031-299-6732)
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장비활용 주요실적
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사용료 안내
| 항목명 |
교내요금 |
교외요금 |
| FIB3 Etching(1시간) |
170000 |
250000 |
| FIB3 Etching(0.5시간) |
85000 |
125000 |
| FIB3 TEM sampling(2시간/시료 1개) |
360000 |
500000 |
| FIB3 EDS 성분분석(Line, Mapping) |
40000 |
60000 |
| FIB3 EDS 성분분석(Point) |
35000 |
50000 |
| FIB3 SEM Image(1장) |
2000 |
3000 |
| FIB3 Pt, Au Coating |
15000 |
20000 |
| FIB3 Mo Grid(1개) |
50000 |
50000 |
| FIB3 TEM gel box |
20000 |
20000 |
