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electrone probe X-ray microanalyzer / 전자탐침미세분석기

  • 장비설명

    큰 샘플의 미세 영역에 대해 매우 민감한 원소 분석을 수행 할 수 있습니다. 혁명적 인 제어 시스템은 완전히 디지털화되어 탁월한 조작성을 위해 마우스와 키보드 만 사용하여 모든 모니터링 및 분석 작업을 제어 할 수 있습니다. 모든 데이터 출력 또한 디지털화되어 저장, 처리 및 전송이 용이합니다.

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    구성 및 성능

    1.Electron Probe Microanalyzer Main Unit : 1set -Analyte Elements : (5)B-(92)U / -No. of Spectrometer: 3 Ch. -Analyzing Crystal: LiF,PET,RAP,PbST,LSA55,70,120,200,300 -Resolution in Secondary Electron Image: 6nm / -Magnification: x50,x400,000 -Accelerating Voltage: 0-30KV / -Objective Aperture: 1 -Visual Observation: With Color CCD-TV / -Magnification and Resolution: x400 and 1um -Max.Sample Size: 100mm*50mm(t) Thick / -Max.Sample Drive Speed: 10mm/sec 2.Data Processing Unit(SunSPAC) : 1set -PC(본체): CPU:112.5Mijps Pro, RAM:32MB, Disk Cap.:Fixed:1GB, O/S:Unix, MO Disk:1.3GB, Ex.FDD:1.44MB, Profile Memory:1.1MB, VRAM:8MB -Monitor : 20" / -Color Inkjet Printer(HP970) / -S/W:High Speedl AI Qualitative Analysis외 4.Chiller(HD-01A,현대전자)(Capacity:1,000Kcal/H) : 1set 5.Air Compressor : 1set 6.Carbon Evaporator(K950) : 1set (Emitech,U.K (£10,751)) -Instrument Case: 450*350*175Hmm -Work Chamber : Borosilicate Glass Φ165*125Hmm / Plus Al. Base Φ110*115Hmm

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    사용/활용예

    정성분석: 시료에서 발생된 특성 X-선 중에서 특정파장을 선택하여 결정구조(d 값)를알고 있는 결정을 이용하여 회절시켜 다른 원소의 특성 X-선과 분리 정량분석: X-선의 양을 계수기(PC)로 측정하며, 표준시료와 비교정량

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    용도

    .

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