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장비찾기 및 예약현황

F.물리적측정장비

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연구장비 검색 -

F.물리적측정장비

profiler / 낙차측정기

  • 장비설명

    표면 형상관찰 및 3차원 입체적 이미지 구현 가능

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    구성 및 성능

    - DektakXT Advanced System(DXT-A) - Bruker 사 제품 - 금속표면 등 비교적 거친 시료표면 형상 측정

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    사용/활용예

    - 금속 표면 이물질 형상 과찰

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  • 항목명 교내요금 교외요금
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