Temperature Image Microscope Sys.(Temp.MappingMicroscopeSys) / 현미경 (온도측정 현미경)
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- 도입년도
- 2014
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- 모델명
- Transient-IR
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- 취득금액
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- 제조국가 / 제조사
- 미국 / Quantum Focus Instruments Corporation
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- 수량
- 1
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- 운영기관
- 이차원양자헤테로구조체연구단
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- 설치장소
- 86695호
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- 담당자 연락처 / e-mail
- 010-4140-4950 / shyukpark@skku.edu
국가연구시설장비 분류체계
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장비설명
닫기온도측정 현미경은 IR lense로 샘플의 온도를 detecting하여 눈으로 온도의 변화를 확인할 수 있는 장비입니다. 주로 소자에 Voltage를 전가하였을 때, 저항이 큰 region에서 또는 current가 흐르는 길은 열이 발생하게 되는데, 그 열을 직접 관측하여 소자를 분석하는데 사용 가능하며, 소자가 아니더라도, 온도를 직접 육안으로 확인하고 분석이 가능한 장비이기 때문에 여러방면으로 물리적 연구에 있어 사용이 가능합니다.
구성 및 성능
닫기본체, 온도 디텍터, 2x lense, 15x lense, lense filter sample vacuum holder, thermal controller, monitor, keyboard, computer 가 주요 구성용품입니다. lense는 2배, 15배로 sample을 관측할 수 있고, 온도의 조절은 piezo를 이용하여 빠르게 조절가능합니다. 온도를 읽어드리는 것은 기본 35도에서 시작하여 200이상 읽어드릴 수 있습니다.
사용/활용예
닫기graphene, 혹은 TMD물질 등 최근 곽방받고 있는 2D material를 channel로 사용한 FET에서, 전압을 인가한뒤 channel 내에서의 current가 흐르는 길을 온도관측으로 확인합니다. 전류가 특히 많이 흐르는 곳을 hot spot이라고 지칭하는데, voltage의 변화에 따른 hot spot을 관측하여, channel 내에서의 전류의 흐름을 물리적으로 연구하는데에 용이합니다.
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