Particle Surface Scanner System / 입자크기 분석기 (스캐너)
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장비설명
닫기Glass 표면에 부착된 이물의 크기분포를 측정하는 자동화 시스템 고 감도 나노 사이즈분석 : 0.3nm~500nm 구간의 입자 분석 가능 - 교차 오염없는 일회용 Cuvette 사용: 일회용 큐벳 사용으로 재현성이 좋으며 교차 오염이 없어 빠르고 쉽게 분석 가능 - 1㎕Ultra Low Volume: 1㎕의 최소량 분석으로 시료에 대한 Recovery가 가능 - 넓은 범위의 분자량 측정 : 340Da ~2500만Da까지 측정이 가능하여 모든 시료에 적용
구성 및 성능
닫기1.Particle Surface Scanner System(나노입자 스캐너) : 1set 1)구 성 -광 원: Laser Diode Array .Wavelength: 658nm / .Laser Source: 35mW -Photo Diode Array .Peak Response WL: 1000nm / .Frequency: 10MHz -Stage (2축) .스테이지 최대속도: 300mm/sec / .스테이지 반복정밀도: ±0.02mm -광학부 -Controller
사용/활용예
닫기연구수행 및 연구결과도출 - 고감도 Avalanche Photo Diode Detector : 고감도 검출기 사용으로 10배이상의 감도 향상 - On-line으로 SECD에 연결가능 : SEC에 연결하여 분자량 측정 가능 (8㎕flow cell)
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항목명 교내요금 교외요금 정보가 없습니다.