AdMOS의 전기적 잡음 측정 자동화 시스템은 (3001B) 모든 웨이퍼 프로버 시스템에 적용 및 통합하여 사용할 수는 장점이 있는 측정 시스템이다. 높은 전압 혹은 자동 시스템에 적용되는 안정적인 모든 종류의 트랜지스터에 대한 전기적 잡음을 감지할 수 있는 기능이 있으며, 시뮬레이션 모델의 모델 파라미터를 추출 할 수 있는 모듈을 통해 전기적 잡음 곡선에 대한 특성 및 원인을 파악 및 개선할 수 있는 시스템이다.

3001B Flicker Noise Measurement System - High quality 1Hz low-pass filter to drain - Gate connection with adjustable input resistance - Ultra low noise amplifier with automatic selection of resistance - Frequency range: 1Hz - 100kHz - DC biasing: ±50V, ±50mA (확장 가능) - Fully shielded enclosure designed to minimize cables - AdMOS Flicker Noise Tool measurement software (측정 자동화 소프트웨어 제공) - Standalone MS Windows program - 3012 Filter Unit: 300*207*70mm - 3022 Control Unit: 450*255*88mm - System Noise : 50fA/

저차원 소자의 전기적 특성 분석 및 Trap 분포를 관찰하기 위해 미세한 전기적 잡음 신호를 측정하는 장비이다. 저준위 소자는 주변 환경이나 측정 조건에 따라 전기적 특성이 다르게 나타나게 되어 소자에서 나온 신호가 왜곡 된다. 본 저주파 잡음 측정 장비는 우수한 필터와 정교한 스위칭을 통해 DC 측정 및 저주파 잡음을 동시에 측정할 수 있는 통합 자동화 장비이다. 이 장비를 이용하여 다음과 같은 연구 목적을 달성 할 수 있다. 1) 저차원 반도체 물질의 전하 거동 산란 메커니즘 규명 2) P/N 접합 내부 공핍 영역의 전하 산란 영향 연구 3) 열 전하 잡음으로부터 전하 온도 산출 4) 자기장/바이오/이미지/가스/빛 센서의 민감도 측정 5) 아날로그 및 디지털 신호 전달 한계 측정 6) 기타 (저차원 소자의 Annealing, Passivation, Quantum Hall Effect, Degradation 영향 연구)