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C.기계가공/ 시험장비

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C.기계가공/ 시험장비

Hall effect measurement system / 온도가변형 홀효과 측정장비

  • 장비설명

    반도체 소자의 전기적인 특성파악을 위해 확인해야 할 캐리어의 농도(Carrier Concentration) 이동도(Mobility) 저항률(Resistivity) 그리고 홀계수(Hall Coeficient)를 파악하기 위한 장비로서 반도체 소자의 특성파악을 위한 측정 장비 크기 : 36×30×10.5cm 저항율 : 10-4 ∼107(Ω·cm) 농도 : 107 ∼ 1021 (cm-3) 자속밀도 : 0.55Tesla 온도 범위 : 80K- 350K 인가전류범위 : 1nA ∼ 20㎃ 홀효과 측정장비란 반도체 캐리어의 이동도 농도 및 저항율을 측정할 수 있는 장비로 교육용으로부터 연구용까지 기본적인 반도체의 전기적 특성 및 물성을 확인할 수 있는 장비입니다. 2종류의 샘플보드 및 IC Socket을 사용하여 측정의 간편성을 확보하고 당사에서 개발한 정전류 공급장치(오차범위 ±0.02%)에 5단계 전류범위를 설정하여 허용오차를 최소화함으로써 정밀측정 보장

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