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장비찾기 및 예약현황

B.화합물전처리/분석장비

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B.화합물전처리/분석장비

Atomic force microscope / 원자현미경

  • 장비설명

    샘플 표면의 원자(분자)와 AFM 팁 끝단의 원자(분자)간에 발생하는 반데르바알스힘과 캔틸레버의 공명주파수 및 진폭 변화를 이용하여 3차원으로 샘플 표면의 형상을 얻을수 있음.

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    구성 및 성능

    -진동 테이플 -레이져 구동 및 검출기 -피에죠 압전 스캐너 제어부

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    사용/활용예

    샘플 표면 형상 3차원 이미지 구현 표면 거칠기 측정

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  • 항목명 교내요금 교외요금
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