Scanning Electron Microscope / 주사전자현미경
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- 도입년도
- 2012
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- 모델명
- JSM-6510
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- 취득금액
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- 제조국가 / 제조사
- 일본 / Jeol
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- 수량
- 1
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- 운영기관
- 컨버젼스연구소
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- 설치장소
- 25406
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- 담당자 연락처 / e-mail
- / yoopj1
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장비설명
닫기주사전자현미경 (Scanning electron microscope (SEM))으로서 일본 JEOL 사의 모델명은 JSM-6510 임. 수량은 1대이고 구매 금액은 100000000원임. 장비는 주사전자현미경 외에 sputter coater system cooling water circulator automatic voltage regulator로 구성되어 있음.
구성 및 성능
닫기수동 stage로 구성되어 있으며 secondary electron image와 backscattered electron detector를 통한 분석이 가능하며 모드에 따라 composition topographic mixing이 가능함. Magnification은 x5~x300000의 분석능을 총 149 단계로 나뉘어 확인할 수 있으며 Resolution은 3.0 nm (30kV) 8.0 nm (3kV) 15 nm (1kV)까지 가능함. 비파괴적 분석 빠른 분석시간 및 고배율까지 물질 분석 가능함.
사용/활용예
닫기일반적인 주사전자현미경으로 마이크로 및 나노크기 물질의 형태나 미세 구조 표면 특성을 위한 분석용이며 0차원 1차원 2차원 3차원 나노 구조체의 구조 분석이 용이하고 다양한 나노 패턴 및 나노 구조의 분석 그래핀(graphene) 박막 필름 구조 특성 분석 등에 쓰일 수 있음.
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항목명 교내요금 교외요금 정보가 없습니다.