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A.광학/전자영상장비

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spectroscopic elepsometer / 두께측정기

  • 장비설명

    특징 UV source를 이용해 빠른 분광 data를 추출하여 샘플의 두께를 측정할 수 있다. 특징 UV source를 이용해 빠른 분광 data를 추출하여 샘플의 두께를 측정할 수 있다.

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    구성 및 성능

    특징 UV source를 이용해 빠른 분광 data를 추출하여 샘플의 두께를 측정할 수 있다. 특징 UV source를 이용해 빠른 분광 data를 추출하여 샘플의 두께를 측정할 수 있다.

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    사용/활용예

    특징 UV source를 이용해 빠른 분광 data를 추출하여 샘플의 두께를 측정할 수 있다. 특징 UV source를 이용해 빠른 분광 data를 추출하여 샘플의 두께를 측정할 수 있다.

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    용도

    UV source를 이용해 빠른 분광 data를 추출하여 샘플의 두께를 측정할 수 있다.

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  • 항목명 교내요금 교외요금
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