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장비찾기 및 예약현황

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High Power Powder X-Ray Diffractometer System / (PD-XRD 1) 고출력 분말용 X선 회절분석기 1

[81B105]엑스선분석실

도입년도 : 2011

모델명 : D8 ADVANCE

취득금액 :

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Field Emission Scanning Electron Microscope 1(EDS) / (SEM 1) 전계방사주사전자현미경 1

[81B101]주사전자현미경실

도입년도 : 2026

모델명 : JSM-IT710HR

취득금액 :

  • 행정업무 : 09:00 ~ 18:00
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Field Emission Scanning Electron Microscope 6 (EDS/EBSD) / (SEM 6) 초고분해능전계방사주사전자현미경 6

[81B106]주사전자현미경실

도입년도 : 2022

모델명 : JSM-IT800

취득금액 :

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High Power Thin Film X-Ray Diffractometer (Super User) / (TF-XRD) [슈퍼유저용] 고출력 박막용 X선 회절분석기

[81B105]엑스선분석실

도입년도 : 2025

모델명 : Smartlab

취득금액 :

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Thermo Gravimetry/Differential Thermal Analyzer(1) / (TG/DTA 1) 시차 열중량분석기 1

[81B116]열분석실

도입년도 : 2018

모델명 : Seiko Exstar 6000(TG/DTA6100)

취득금액 :

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Thermo Gravimetry/Differential Thermal Analyzer(2) / (TG/DTA 2) 시차 열중량분석기 2

[81B116]열분석실

도입년도 : 2013

모델명 : TG/DTA7300

취득금액 :

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Thermo Mechanical Analyzer / (TMA) 열팽창계수측정기

[81B116]열분석실

도입년도 : 2001

모델명 : Seiko Exstar 6000(TMA6100)

취득금액 :

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Vitrification system 1 / (Vitrification 1) 초저온전자현미경 전처리장비 1

[82112]시편전처리실

도입년도 : 2023

모델명 : Vitrobot Mark IV

취득금액 :

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Vitrification system 2 / (Vitrification 2) 초저온전자현미경 전처리장비 2

[82112]시편전처리실

도입년도 : 2023

모델명 : Vitrobot Mark IV

취득금액 :

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X-ray Photoelectron Spectrometer 2(Only super user) / (XPS 2) [슈퍼유저용] 광전자분광기 2

[81B111]기기분석실Ⅰ

도입년도 : 2022

모델명 : JPS-9030

취득금액 :

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